기기명 (영문) | XRD |
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기기명 (한글) | X선 회절분석기 |
모델명 | New D8-Advance |
제조회사 | Bruker-AXS |
도입시기 | 2011년 5월 |
담당 | 한철경 / 02-820-6173 |
장비위치 | 수림과학관 206호 |
예약가능여부 |
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재료의 결정구조를 분말, film 혹은 bulk 시료 분석으로 해석가능
부속 프로그램내의 Search 기능을 이용해 정성분석(상분석) 가능
부속 프로그램인 Topaz를 사용하여 아래와 같은 기능 수행 가능
1. profile fitting
2. 격자상수 정산
3. 미세조직 분석(입자크기/변형분석)
4. Whole powder pattern decomposition (Pawley and LeBail method)
5. Rietveld를 이용한 구조정산 및 정량분석